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E-Beam Wafer Inspection System Taille du marché, Part 2024-2032

E-Beam Wafer Inspection System Taille du marché, Part 2024-2032

  • ID du rapport: GMI4221
  • Date de publication: Feb 2024
  • Format du rapport: PDF

E-Beam Wafer Inspection System Taille du marché

On estime que le marché du système d'inspection des wafers E-Beam connaît une croissance remarquable de 2024-2032 en raison de la demande croissante de wafers semi-conducteurs et de la préférence croissante pour la miniaturisation.

L'adoption de l'électronique avancée incite plusieurs fabricants de semi-conducteurs à recourir de plus en plus aux systèmes d'inspection E-Beam pour un contrôle de qualité minutieux. L'expansion continue de l'industrie des semi-conducteurs, caractérisée par des dimensions plus grandes et des conceptions complexes, nécessite une détection précise des défauts, un fort de la technologie E-Beam. En mettant fortement l'accent sur l'imagerie à haute résolution, ces systèmes aident également à résoudre la complexité des circuits intégrés et de la nanotechnologie en évolution.

De plus, plusieurs gouvernements et intervenants de l'industrie reconnaissent l'importance stratégique de stimuler la fabrication de semi-conducteurs pour les progrès technologiques, ce qui favorise l'expansion de l'industrie. Par exemple, en décembre 2023, l'Inde et les États-Unis ont signé un accord préliminaire visant à renforcer la collaboration du secteur privé dans le secteur des semi-conducteurs. Toutefois, le manque de connaissance des caractéristiques des systèmes d'inspection peut poser des défis majeurs pour les progrès du marché à l'avenir.
 

E-Beam Wafer Inspection System Market Tendances

L'augmentation des investissements en R-D pour favoriser l'évolution des systèmes de haute précision et répondre aux demandes croissantes de l'industrie des semi-conducteurs contribuera à la demande de produits. La synergie entre les entreprises et les engagements financiers renforce la compétitivité des solutions E-Beam tout en élargissant leur présence sur le marché. Par exemple, en septembre 2023, Photo electrons Soul Inc., une entreprise de l'Université Nagoya, a obtenu 730 millions de yens d'une équipe d'associés généraux dirigée par USHIO INC. et a conclu un accord de distributeur unique pour les systèmes de génération de faisceaux de photocathodes à semi-conducteurs utilisés dans les outils d'inspection des modèles de wafers à semi-conducteurs à faisceaux électriques.

Système d'inspection E-Beam Wafer Analyse du marché

Sur la base de la résolution, le marché est segmenté en moins de 1nm, 1nm à 10nm et plus de 10nm. L'industrie du système d'inspection des wafers de 1 nm à 10 nm e augmentera considérablement d'ici 2032. Les outils qui ont une résolution de 1nm aident les utilisateurs finaux à détecter les défauts les plus difficiles et les moins graves que d'autres technologies ne peuvent identifier. Ces outils sont également très utilisés dans la rampe et la production de modèles multiples, la formation FinFET, DRAM, R&D et les applications de formation NAND 3D.

En ce qui concerne l'utilisation finale, l'industrie du système d'inspection des wafers de faisceaux électroniques du segment des pièces automobiles devrait détenir une part importante des revenus d'ici 2032. Le besoin croissant de technologies futuristes dans les automobiles et l'augmentation des ventes de véhicules électriques stimuleront l'utilisation des produits. Selon des sources crédibles, en 2023, 1,2 million de véhicules électriques ont été vendus aux États-Unis. L'utilisation croissante de semi-conducteurs dans les véhicules électriques pour intégrer des technologies de communication de pointe, telles que l'ADAS, contribuera davantage à la croissance du segment.

À l'échelle régionale, le marché des systèmes d'inspection par faisceaux électriques de la région Asie-Pacifique devrait enregistrer une croissance considérable jusqu'en 2032, sous l'influence du secteur des semi-conducteurs, qui ne cesse d'augmenter dans la région. Ces outils d'inspection sont largement utilisés par les fabricants de semi-conducteurs car ils facilitent l'inspection de haute qualité des wafers. Plusieurs gouvernements et les principaux fabricants de semi-conducteurs accroissent également leurs investissements pour élargir le réseau d'usines de fabrication de semi-conducteurs, ce qui accroît encore les perspectives de l'industrie APAC. Pour citer un exemple, en juin 2023, Micron Technology, Inc. a annoncé son intention de développer une nouvelle usine de montage et d'essai de semi-conducteurs au Gujarat, en Inde, afin de répondre aux demandes nationales et mondiales de produits DRAM et NAND.

E-Beam Wafer Inspection System Part de marché

Les principaux fournisseurs de systèmes d'inspection de l'e-faisceau conduisent les innovations par la recherche continue, le développement et les collaborations stratégiques pour l'adoption de technologies de pointe, l'amélioration des performances du système et la compétitivité du marché. Pour illustrer, NXP Semiconductors N.V. contribue en grande partie aux progrès technologiques et à la précision de la fabrication de semi-conducteurs par des solutions innovantes et des initiatives stratégiques pour consolider sa position de leader dans l'industrie.

Voici quelques-uns des principaux acteurs de l'industrie du système d'inspection des wafers à faisceaux E :

  • Hitachi Ltd
  • Matériaux appliqués Inc.
  • NXP Semiconductors N.V.
  • Taiwan Semiconductor Fabrication Co. Ltd.
  • Renesas Electronics
  • ASML Holding N.V.

E-Beam Wafer Inspection System Nouvelles de l'industrie

  • En décembre 2022, Applied Materials, Inc. a introduit deux nouveaux produits de faisceaux électroniques d'émission en champ froid (CFE) – SEMVision G10 pour l'examen des défauts et PrimeVision 10 pour l'identification des défauts, dans le but de maintenir sa position dominante dans le processus de diagnostic et de contrôle du faisceau électronique.
  • En décembre 2023, Hitachi High-Tech Corporation a mis au point le système d'inspection des défauts de Wafer de champ noir DI4600, un nouvel instrument d'examen des particules et des défauts sur les wafers à motifs dans les lignes de fabrication de semi-conducteurs.
Auteurs: Suraj Gujar

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Détails du rapport premium

  • Année de base: 2021
  • Pages: 100
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